池田屋 OTSUKA/大塚 小角激光散射仪 PP-1000
OTSUKA/大塚电子（Otsuka Electronics）推出的小角激光散射仪，型号 PP-1000，利用小角激光散射法（Small Angle Laser Scattering，简称 SALS），可对高分子材料和薄膜进行原位检测与实时解析

池田屋 OTSUKA/大塚 小角激光散射仪 PP-1000

池田屋 OTSUKA/大塚 小角激光散射仪 PP-1000

OTSUKA/大塚电子（Otsuka Electronics）推出的小角激光散射仪，型号 PP-1000，利用小角激光散射法（Small Angle Laser Scattering，简称 SALS），可对高分子材料和薄膜进行原位检测与实时解析。与 SAXS（小角 X 射线散射）和 SANS（小角中子散射）装置相比，该产品的检测范围更广。利用偏光 Hv 散射测量可进行光学各向异性的评价，解析结晶性薄膜的球晶半径；偏光 Vv 散射测量可进行聚合物混合的相关距离分析。适用于高分子材料、薄膜及聚合物共混物的结构解析与品质管理。

测量原理与光学规格

PP-1000 基于小角光散射法（SALS）测量原理，采用半导体激光器（波长 785nm）作为光源，CMOS 相机作为检测器。测量散射角度范围为 0.33°～45°，覆盖较宽的小角散射区域，可同时捕捉大尺度与小尺度结构信息。散射图样支持 Hv 光散射（偏光散射，用于光学各向异性与球晶分析）和 Vv 光散射（非偏光散射，用于聚合物混合相关距离分析）。光斑直径约 1mm，适用于宏观区域的结构分析。

检测性能与测量速度

动态范围为 120dB 以上（使用 HDR 功能时），可同时检测强散射与弱散射信号，适用于散射强度差异较大的样品体系。测量时间可从 10msec 起设定（依样品及测量条件而定），可实现快速测量，适用于原位实时检测场景。

解析项目与应用

该产品可解析的关键结构参数包括：球晶半径（结晶性高分子薄膜的球晶尺寸分析）、相关距离（聚合物混合体系中的相分离结构分析）。原位检测功能使其可实时跟踪高分子材料的结晶过程、相分离过程及结构演化。广泛应用于高分子材料研发、薄膜制造工艺优化、聚合物共混物相容性评价及光学薄膜结构分析等领域。

优势品牌：USHIO牛尾、TOPCON拓普康、AITEC艾泰克、FUNATECH船越龙、ORC欧阿西

SAGADEN嵯峨、SAKAZUME坂诘、DNP大日本科研、TOKYO DENSHOKU电色、KKIMAC

S-VANS斯万斯、ORIHARA折原、LUCEO鲁机欧、HIKARIYA光屋、YAMADA山田光学

AND艾安得、T&D天特、JIKCO吉高、DKK-TOA东亚电波、OKANO冈野

IMV艾目微、MITUTOYO三丰、KYOWA共和、ONOSOKKI小野、SANEI三荣

HEIDON新东、KURABO仓纺、SHOWA昭和、THINKY新基

SURUGA骏河、ACCRETECH東京精密、SANSYO三商、ITOH伊藤

RKC理化、MACOME码控美、EIWA荣和、EXCEL艾库斯、YODOGAWA淀川等