池田屋原厂Photonic Lattice二维双折射测量WPA-300-L
Photonic Lattice（光子晶格公司）的WPA-300-L是WPA-300系列中的一款二维双折射测量系统，属于应力、取向和晶体缺陷质量控制类产品。

池田屋原厂Photonic Lattice二维双折射测量WPA-300-L

池田屋原厂Photonic Lattice二维双折射测量WPA-300-L

Photonic Lattice（光子晶格公司）的WPA-300-L是WPA-300系列中的一款二维双折射测量系统，属于应力、取向和晶体缺陷质量控制类产品。该系列通过将偏振图像传感器的分辨率提高至5倍，在保持WPA-200系列大相位差测量性能的同时，提供更清晰的测量结果，能够将微小的相位差变化转化为更清晰的数据。多波长评估使大双折射测量成为可能，在三个不同波长下测量的数据可合并成一个高延迟数据分布。

在测量规格方面，WPA-300-L的输出包括相移/延迟（nm）、轴向（°）以及应力当量（MPa），其中应力当量作为数据处理选项的一部分提供。在测量纯石英的情况下，测量范围为0至3500nm。重复性方面，延迟量为σ<0.1nm，轴向取向为σ<0.1度，该重复性条件适用于延迟量大于10nm的情形。传感器部件分辨率为848×680，约5700万像素，工作波长为523纳米、543纳米、575纳米。

硬件方面，WPA-300-L的尺寸为宽430×深508×高最大1135毫米，物镜尺寸约为36×45mm至约255×320mm（标准镜头），或约12×15mm至约32×40mm（变焦镜头，可选），重量约25公斤。接口采用千兆以太网（摄像机信号），电源为交流100至240伏（50/60赫兹），电流约5.0安。软件为WPA视图，包含物品包括台式电脑、标准镜头和用户手册。与WPA-300相比，WPA-300-L在机身尺寸、物镜尺寸与重量上有所不同，以适应更大的测量视野需求。

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